SITE/articles/4Russian_plans_Sol_sys/4frend.jpg' alt='Микроинтерферометр Мии 4М Инструкция' title='Микроинтерферометр Мии 4М Инструкция' />ФГУП ВНИИОФИ Всероссийский научно исследовательский институт оптико физических измерений. Стоимость 2 1. 24 0. Для расширения диапазона измерения высот профиля поверхности используется метод регистрации на нескольких длинах волн. Области примененияв промышленности бесконтактное измерение микропрофиля отражающих поверхностейизмерение высотных и шаговых параметров шероховатостиизмерение толщины тонких пленокдинамические измеренияв биологии и медицине возможность исследования живых неокрашенных клетокморфометрия клетокизмерение сухого веса клеток с точностью 1. Принцип действия МИА 1. М основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от опорного зеркала и поверхности измеряемого изделия. Прошивка Модуля Связи Moly Wr8 W1315 Md. Основой микроскопа является микроинтерферометр МИИ 4. Микроинтерферометр Мии 4М Инструкция' title='Микроинтерферометр Мии 4М Инструкция' />МИИ4М с МОВ116х. Микроинтерферометр бесконтатный оптический прибор для измерения параметров шероховатости полированных и. М, построенный по схеме интерферометра Линника. Для автоматизации измерений реализован метод дискретного фазового сдвига при помощи управляемого от компьютера зеркала на пьезоэлементе пьезозеркала, встроенного в опорное плечо микроинтерферометра. Интерференционные картины при различных положениях пьезозеркала регистрируются с помощью встроенной цифровой ПЗС камеры и передаются в персональный компьютер, где производится их обработка в автоматическом режиме. В результате обработки восстанавливается оптическая разность хода, соответствующая измеряемому профилю поверхности. Контактные данные. Перейти на страницу примеров работы микропрофилометра. Микроинтерферометр Мии 4М Инструкция' title='Микроинтерферометр Мии 4М Инструкция' />В микроинтерферометре МИИ4 в качестве разделяющей системы используется наклонная плоскопараллельная пластинка, имеющая. Микроинтерферометр МИИ4М предназначен для для измерения шероховатости полированных поверхностей.